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三維表面測(cè)量?jī)x是一種高精度的測(cè)量?jī)x器，能夠精確獲取物體表面的三維形狀、尺寸和輪廓信息。其技術(shù)原理主要基于計(jì)算機(jī)視覺、光電傳感、圖像處理以及軟件控制等先進(jìn)技術(shù)。通過發(fā)射激光束、投射結(jié)構(gòu)光或利用光學(xué)輪廓測(cè)量原理，三維表面測(cè)量?jī)x能夠在極短的時(shí)間內(nèi)獲取物體表面的高密度三維數(shù)據(jù)。在測(cè)量過程中，三維表面測(cè)量?jī)x利用高精度傳感器和先進(jìn)的算法，對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析，從而生成物體的三維模型。這些模型不僅包含物體的幾何尺寸信息，還能夠準(zhǔn)確反映物體表面的微觀形貌和粗糙度等特征。三維表面測(cè)量?jī)x...

【應(yīng)用文章】依據(jù)ISO/TR13097標(biāo)準(zhǔn)使用多重光散射穩(wěn)定性分析儀MS20預(yù)測(cè)保質(zhì)期（圖1）DataPhysics公司多重光散射穩(wěn)定性分析儀MS20（六樣品塔）（圖2）液-固或液-液分散體中的主要失穩(wěn)現(xiàn)象（圖3）測(cè)量原理示意圖（圖4）被測(cè)樣品與參考樣品的MSI對(duì)比（圖5.）測(cè)量3.5天后樣品的MSI值（以直方圖形式呈現(xiàn)）

Zeta電位分析儀是一種基于電泳和光散射原理的高精度測(cè)量?jī)x器，主要用于測(cè)量納米顆粒的Zeta電位。Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差，是表征粒子表面電荷狀態(tài)的一個(gè)重要參數(shù)。該分析儀的測(cè)量原理主要依賴于電泳遷移率的測(cè)定。當(dāng)電場(chǎng)施加于電解質(zhì)溶液中的懸浮帶電粒子時(shí)，這些粒子會(huì)受到電場(chǎng)力的作用而向相反電荷的電極移動(dòng)。同時(shí)，作用于粒子的粘性力會(huì)傾向于對(duì)抗這種運(yùn)動(dòng)。當(dāng)這兩種力達(dá)到平衡時(shí)，粒子將以恒定的速度運(yùn)動(dòng)，這個(gè)速度被稱為電泳遷移率。通過測(cè)量電泳遷移率，并結(jié)...